放射線分析方法、放射線分析装置、放射線検出器

高線量下においても放射線検出器で得られたエネルギースペクトルの解析によって試料の分析を高精度で行う。この放射線分析方法においては、まず、試料のスペクトル(実測スペクトル)が放射線検出器によって測定される(試料測定工程:S1)。ここではシンチレータとして異なる大きさのものが複数種類、遮蔽体として異なる厚さのものが複数種類用いられ、各条件(設定条件)毎に実測スペクトルが得られる。次に、参照用線源に対して、前記同様の測定が行われる(参照用線源測定工程:S2)。次に、参照用線源測定工程(S2)で得られた参照スペクトルから、前記のように実測スペクトル中における背景核種(137CS)に起因する成分である背景核種起因成分を推定する(背景核種起因成分推定工程:S3)。次に、実測スペクトルと背景核種起因成分との差分となる補正後スペクトルが算出される(補正後スペクトル算出工程:S4)。

Representative country of application	:	日本
Application number	:	2022-555593
Publication number	:	WO-2022/075455
Patent number	:
Date of filing	:	2021/10/08
Date of publication	:	2022/04/14
Date of patent	:
PCT application number	:	PCT/JP2021/037367
PCT patent number	:
EPC application number	:
EPC patent number	:
International patent classification	:	G01T 1/167(2006.01):G01T 1/20 (2006.01)
Relevant patent	:
Relevant other documents	:	浜松ホトニクス「光電子増倍管第4版」第5章
Published unexamined patent application	:	P1/P53100A.pdfP53100A.pdf
Link for Patent Gazette	:
Licensable Patent Information Database	:	Licensable Patent Information Database
Press Release	:
Article of JAEA R&D Review	:

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