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論文

In situ EELS and TEM observation of silicon carbide irradiated with helium ions at low temperature and successively annealed

北條 喜一; 古野 茂実; 櫛田 浩平; 大津 仁*; 古谷 吉男*; 出井 数彦*

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 116, p.382 - 388, 1996/00

 被引用回数:32 パーセンタイル:91.03(Instruments & Instrumentation)

イオン照射型・電界放射電子銃付電子顕微鏡付設透過電子エネルギー分光器を用いて、水素及びヘリウムイオンをSiCに連続照射し、その構造と電子状態の変化を観察、測定した。その結果、室温照射では損傷量が約1dpaで非晶質化し、プラズモン損失ピークが低エネルギー側(22.7eV$$rightarrow$$19.5eV)にシフトすることを明らかにした。さらに、800$$^{circ}$$C以上の試料温度で照射した場合は構造及び電子状態になんら変化がないことが明らかになった。

論文

英カナまじり入出力のシステムとその試験的実施; KWINECによる文献処理(3)

古谷 実; 稲見 泰生; 小沼 吉男; 山田 孝行

第7回情報科学技術研究集会発表論文集, p.261 - 268, 1971/00

前報「KWINECによる文献処理(2)」が提示した方法で記述された英字カナ文字まじりの技術文献標題150件を試験的に電算機処理した。その際に生ずる問題について述べ,KWINEC索引の実施例を示す。また,同一文献群を従来のKWICで処理し,処理時間,出力結果としてのキーワードについて比較検討した。本KWINECは従来のKWICより弾力性があり,中味の濃い索引をつくりうること,禁止語の検素時間を短縮できること,特殊な入出力機器を必要としないこと等の利点がある。

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