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ion irradiation under the control of free point defects石田 巌*; 義家 敏正*; 佐々木 茂美; 岩瀬 彰宏; 岩田 忠夫; 桐谷 道雄*
Journal of Nuclear Materials, 155-157, p.417 - 422, 1988/00
被引用回数：8 パーセンタイル：64.92(Materials Science, Multidisciplinary)イオン照射によって金属中に生ずる点欠陥集合体の形成機構を知る目的で、2MV V.d.G加速器を用いて500keVのエネルギーのヘリウムイオンを銅の薄膜試料およびバルク試料に室温で照射した。試料中に発生した点欠陥集合体を電子顕微鏡を用いて観察した。
ion irradiation石田 巌*; 義家 敏正*; 桐谷 道雄*; 佐々木 茂美; 岩瀬 彰宏; 岩田 忠夫
Proc.XIth Int.Cong.on Electron Microscopy, p.1281 - 1282, 1986/00
純度99.999%の銅を電解研磨によりクサビ形薄膜試料とし、2枚の試料を交差して重ね合わせ、室温で、2MVV.d.G加速器を用いて500keVHeイオンを、照射強度2.8
10
ions/cm・S、照射量8.310
ions/cm・Sまで照射し、導入された点欠陥集合体を電子顕微鏡JEM-200CXを用いて観察した。その結果、マスクのない試料部分およびマスクの薄い試料部分では積層欠陥四面体が主に観察され、マスクの厚い試料部分では転移ループのみが観察された。これは、イオン入射面近傍とイオンの飛程の近傍とでは、欠陥集合体形成の機構が異なっていることを示している。
加納 巌*; 岩田 耕司; 武田 洋*; 上杉 誠一*
PNC TN241 79-05, 354 Pages, 1979/01
高速原型炉の高温構造設計評価に際して,クリープ損傷を詳細に評価することが重要となっている。本報告書は,構造材料SUS304について円筒モデルの典型的な構造形状および荷重条件における応力リラクセーション曲線を作成し,合理的なクリープ損傷評価法を提案するための一資料を作成したものである。なおクリープ損傷評価法を提案するにあたって行なった一連の応力解析は,一次元非弾性解析プログラム「TEPC」を用いた。 (2001.7.31の区分見直し時には、区分は記入されていなかった。)
久布白 兼致*; 大村 道夫; 神崎 直二郎; 味岡 勝重; 堀内 政尾; 団野 晧文; 能美 英彦; 林 克彦; 岩田 巌
第2回原子力シンポジウム報文集, P. 173, 1958/00
抄録なし
