Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
Initialising ...
的場 徹; 船橋 昭昌; 板垣 時良; 熊谷 勝昭; 荘司 昭朗; 鈴木 紀男; 山内 俊彦
Japanese Journal of Applied Physics, 18(3), p.611 - 619, 1979/00
被引用回数：3JFT-2トカマク装置においてQスイッチルビーレーザーを用いたトムソン散乱計測によりオーミック加熱水素プラズマの電子温度・電子密度が測定された。測定範囲は電子温度で0.08~1.2keV、電子密度で2
10
~4.410
cm
であり、それらの空間分布も測定できた。電子温度はプラズマ電流に比例して変化し、等価荷電数は電子密度の増加により減少した。電子温度の空間分布計測値から電子熱伝導計数の実験値を求めることができ理論値と比較して以下の結論を得た。Ke
≪Ke
≦Ke
ここでKeは実験値であり、Keは新古典論Keは散逸的捕かく電子論による理論値である。
的場 徹; 板垣 時良; 山内 俊彦; 船橋 昭昌
Japanese Journal of Applied Physics, 18(6), p.1127 - 1133, 1979/00
被引用回数：44高温プラズマからの光散乱スペクトルの計算によりv/cの2次の項までの近似式を求めた。スペクトルピークの青側シフト量の2次近似は数10keVのエネルギー領域で完全相対論と良く一致する。2次近似により求めた見かけの電子温度、密度は100keVまで8%の精度である。
板垣 時良; 的場 徹; 船橋 昭昌; 鈴木 康夫
JAERI-M 7295, 39 Pages, 1977/09
1981年に完成予定の臨界プラズマ試験装置(JT-60)の基本プラズマパラメータであるイオン温度測定用遠赤外散乱測定法について考察した。現在までの提案報告によると遠赤外散乱測定を行なうのに必要とする高出力遠赤外レーザの出力パワーはほぼ数MWと見込んでいる。2,3年後には目標の数MWクラスの高出力遠赤外パルスレーザが実現するものと予想され、イオン温度の局所値を捌定できる有力な方法として非常に重要でありJT-60でも遠赤外散乱測定を計画している。JT-60の遠赤外散乱測定において雑音レベルを決めるのは、469
m-CH
Fレーザのときシンクロトロン輻射がショットキダイオードの推音レベルと同程度になり、また385m-D
OレーザのときショットキダイオードのNEPで決まる。このときS
=1に対応する遠赤外レーザの出力パワーはCHFレーザで4MWになる。一方Dレーザはヘテロダイン検波器の改良により0.4MW程度まで低くすることができる。
的場 徹; 鈴木 康夫; 船橋 昭昌; 板垣 時良
JAERI-M 7220, 17 Pages, 1977/08
JT-60における予備的な計測計画を本体の設計と協調して立案した。計測計画立案における基本的要求事項は(1)プラズマパラメータの複数計測、(2)各放電の効率的利用、(3)デー夕収集の拡充、(4)計測器の高信頼化、(5))新計測法の組織的開発、である。本体の計測ポートは真空容器の詳細設計時にすべての計測法を考慮して寸法を決めた。整備すべき計測システムとそのスケジュールを図表にまとめた。最後に診断にともなう種々の問題点を提示した。
板垣 時良; 的場 徹; 船橋 昭昌; 鈴木 康夫
JAERI-M 7121, 56 Pages, 1977/07
1981年に完成予定の臨界プラズマ試験装置(JT-60)の基本プラズマ・パラメータである電子密度測定用干渉計測法について考察した。JT-60のような大型トカマク装置ではプラズマ半径が大きくなるのでプラズマによる干渉フリンジ数と屈折による湾曲効果が大きくなり、干渉計に使用する光源として遠赤外レーザが必要になる。この遠赤外光を用いた干渉法をJT-60のプラズマに適用したとき、測定限界密度が屈折効果で規定されることを見出した。次に現在までに中型トカマク装置で行われた遠赤外干渉測定の例とその構成要素について概論した。さらにS/N値評価法について考察し、JT-60での具体的検討によればレーザ発振器出力の不安定、屈折によるビーム減衰、シンクロトロン放射、および機械的振動が問題になることが判明した。この対策として機械的振動以外の項目に周波数変調が有効であることを示した。最後にJT-60に遠赤外干渉計を適用したときの構成例を示した。
的場 徹; 船橋 昭昌; 板垣 時良; 高橋 興起; 熊谷 勝昭; 山内 俊彦
JAERI-M 6685, 21 Pages, 1976/08
JFT-2トカマクの電子密度を、ルビーレーザ散乱およびミリ波干渉法の2つを使って測定した。散乱測定では、散乱光強度の2次元分布が得られ、散乱光強度較正は干渉測定法から決定された平均電子密度で規格することによって行われた。散乱法から求めた電子密度の水平分布が、4ミリ波干渉計から決定された平均密度を逆変換することによって得られた結果と比較された。これらの方法がプラズマ放電非再現性のため正しい結果を与えない場合を除いては、これらの方法の間には基本的な一致が得られた。
板垣 時良; 的場 徹; 熊谷 勝昭; 船橋 昭昌
JAERI-M 6476, 23 Pages, 1976/03
原研JET-2及びJFT-2aプラズマのルビー・レーザー光トムソン散乱測定において、スペクトル決定用各チャンネルの散乱パワーはガウス分布曲線に一致せず数10%変動する。この変動の原因が光電子増倍管のショット・ノイズであることを実験的に確認した。更に実際に測定した散乱スペクトルにおいて、各チャンネルの散乱パワーの変動が、ショット・ノイズから予想される誤差範囲内に含まれる事を示す。最後にトムソン散乱測定データから最適ガウス分布曲線を求める方法として、最小2乗テーラー微分補正法による計算機処理コードを付録に載せた。
