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富永 洋; J.Galleguillos V*
Int.J.Appl.Radiat.Isot., 29(9-10), p.537 - 541, 1978/00
スラリー密度変化に対して、補正を必要としない、蛍光X線法オンストリーム分析を提案した。スラリー密度の変化にさいして、栄光X線と散乱X線の強度増減が相反する性質を有することに着目し、フィルター厚さ及びパルスハイトウインドウをあらかじめ調節して、蛍光X線チャンネルが、散乱線に比例したバックグラウンドをもつようにセットしておく。スラリー密度が増加したとき、正味の蛍光X線計数の増大は、バックグラウンドの減少により自己補償される。実験室及び工場現場(チリ銅山)における実験結果、ならびに理論的解析について述べた。
