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口頭

放射線検出器開発のための低キャリア濃度InSb結晶育成

菱木 繁臣; 古結 義崇*; 神野 郁夫*; 山名 元*

no journal, , 

現在のSiやGe放射線検出器よりも、高エネルギー分解能・高検出効率でX線や$$gamma$$線の測定が可能なInSb検出器の開発を行っている。これまで市販の不純物を添加していないInSbウエハーを用いて製作したSchottky検出器で$$gamma$$線のエネルギーピークの測定に成功した。しかし市販のInSbウエハーでは比抵抗値が低く、キャリア濃度が高いため十分な空乏層厚さが得られない。そこで垂直ブリッジマン法にて純度の異なる原材料を用いてInSbの結晶育成を試みた結果、高純度材料を用いて再結晶したInSbインゴットの中央部分で市販品に比べ低キャリア濃度で高比抵抗値である高品質InSbウエハーが得られた。また、Hall測定結果からInSbに残留する不純物がZnとAsである可能性が高いことが推測された。

口頭

InSb放射線検出器を目指した母材の結晶育成とその電気特性

菱木 繁臣; 古結 義崇*; 神野 郁夫*; 山名 元*

no journal, , 

従来のSiやGe放射線検出器よりも、高エネルギー分解能・高検出効率でX線や$$gamma$$線の測定が可能なInSb放射線検出器の開発を行っている。これまで市販の不純物を添加していないInSbウエハーを用いて製作したSchottky検出器では$$gamma$$線のエネルギーピークの測定に成功しているものの、空乏層が薄いため$$gamma$$線の全吸収ピークである光電ピークを得ることができない。空乏層を厚くするためには低キャリア濃度で高比抵抗値のInSbウエハーを必要とする。市販品よりも高品質のInSbを得るため、垂直ブリッジマン法で結晶育成を行った。純度の異なる原材料を用いてInSbの結晶育成を試みた結果、高純度材料を用いて再結晶したInSbインゴットの中央部分で市販品に比べ低キャリア濃度で高比抵抗値を有する高品質InSbウエハーが得られた。また、Hall係数の温度依存性を解析することで、InSbに残留する不純物がZnとAsであることが推測された。

口頭

放射線検出器開発のための垂直ブリッジマン法による低キャリア濃度InSb結晶育成

菱木 繁臣; 古結 義崇*; 神野 郁夫*; 山名 元*

no journal, , 

従来のSiやGe放射線検出器よりも、高エネルギー分解能・高検出効率でX線や$$gamma$$線の測定が可能なInSb放射線検出器の開発の現状を報告する。これまで市販の不純物を添加していないInSbウエハーを用いて製作したSchottky検出器では$$gamma$$線のエネルギーピークの測定に成功しているものの、空乏層が薄いため$$gamma$$線の全吸収ピークである光電ピークを得ることができない。空乏層を厚くするためには低キャリア濃度で高比抵抗値のInSbウエハーを必要とする。そこで市販品よりも高品質のInSbを得るため、垂直ブリッジマン法で結晶育成を行った。高純度材料を用いて再結晶したInSbインゴットから従来のものよりも低キャリア濃度で高比抵抗値を有する高品質InSbウエハーを得ることに成功した。また、純度の異なる原材料を用いてInSbの結晶育成を試み、得られた試料のHall係数の温度依存性を解析することで、InSbに残留する不純物がZnとAsである可能性が高いことをつきとめた。

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