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淡路 智*; 難波 雅史*; 渡辺 和雄*; 甲斐 英樹*; 向田 昌志*; 岡安 悟
Journal of Applied Physics, 111(1), p.013914_1 - 013914_4, 2012/01
被引用回数:26 パーセンタイル:68.93(Physics, Applied)軸に対して傾いた円柱状欠陥を含むErBa
Cu
O
薄膜の低温高磁場下での臨界電流密度
の
軸相関ピン止めの影響をトランスポート法と不可逆磁場特性B
から調べた。マッチング磁場より大きな高磁場下では温度を下げると臨界電流密度
に対する相関ピンの寄与は著しく減少する。低温においてはマッチング磁場の存在が相関ピンのピン止め力に対する寄与を制限する、というのは最大ピン止め力における相関ピンとランダムピンの比率は不可逆磁場B
の逆数に比例するからである。このことは低温強磁場での相関ピンの効率の低さは、高い不可逆磁場と低いマッチング磁場の結果であることを意味している。低温高磁場での臨界電流密度の改善を行うためにはマッチング磁場の増大を計るかあるいは同じことであるが、強いランダムピンの導入が有効である。
淡路 智*; 難波 雅史*; 渡辺 和雄*; 伊藤 俊*; 青柳 英二*; 甲斐 英樹*; 向田 昌志*; 岡安 悟
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), p.3192 - 3195, 2011/06
被引用回数:7 パーセンタイル:40.24(Engineering, Electrical & Electronic)重イオン照射したEr123薄膜の磁束ピン止め特性を(
,
,
)特性として詳細に調べた。B//cの
曲線でマッチング磁場がc軸平行で0.3テスラとc軸から傾けたときは1.7テスラに相当するときに2つのピークが観測された。さらに
(
)で
=0
(B//c)のときのピークは、円柱状欠陥によるピン止めに起因するが、磁場増加に伴い一旦減少するが不可逆磁場近傍では増大するようになる。c軸相関のピン止め中心とランダム分布のピン止め中心が協調して働いているモデルを用いると
(B)の二重ピーク構造や
の角度依存性を説明できることがわかった。