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論文

Development of a flat-field spectrograph with a wide-band multilayer grating and prefocusing mirror covering 2-4 keV

今園 孝志; 小池 雅人; 長谷川 登; 小枝 勝*; 長野 哲也*; 笹井 浩行*; 大上 裕紀*; 米澤 善央*; 倉本 智史*; 寺内 正己*; et al.

Journal of Physics; Conference Series, 425(15), p.152008_1 - 152008_4, 2013/03

 被引用回数:2 パーセンタイル:74.44

2$$sim$$4keVをカバーする多層膜回折格子と多層膜凹面鏡を搭載した平面結像型軟X線分光器の開発を行っている。機械的駆動による波長走査が不要な分光器を開発することを目指し、当該エネルギー領域全域に渡る反射率を一定入射角でも均一的に高めることができるWとB$$_4$$Cからなる新しい膜構造の多層膜を発明し、それを多層膜回折格子及び多層膜凹面鏡として応用した。ラミナ型不等間隔溝ホログラフィック回折格子(有効格子定数: 1/2400mm)及び凹面基板(曲率半径5000mm)上にイオンビームスパッタリング法により広帯域多層膜を作製し、放射光を用いて入射角88.65$$^circ$$における絶対回折効率及び88.00$$^circ$$における反射率を評価(平均値)した結果、2.1$$sim$$3.8keV領域の全域でそれぞれ3%超及び4%超であった。これら2つの多層膜光学素子を組合せた分光器のスループットは、従来の金単層膜回折格子及び反射鏡のそれに比して2$$sim$$5000倍以上高感度となることがわかった。

論文

X-ray micro-beam focusing system for in situ investigation of single nanowire during MBE growth

Hu, W.; 高橋 正光; 神津 美和*; 仲田 侑加*

Journal of Physics; Conference Series, 425(20), p.202010_1 - 202010_4, 2013/03

 被引用回数:1 パーセンタイル:57.77

A ternary Fresnel zone plate (FZP) has been fabricated and installed at the beamline 11XU of SPring-8, in the aim of in situ studies on the growth of semiconductor nanostructures using an X-ray diffractometer integrated with a molecular-beam epitaxial (MBE) chamber. The FZP is designed for an X-ray energy of 9.5 keV with peak efficiency of 48% for the 1st-order diffraction. The full width at half maximum of the focused beam profile is around 1 micrometer in both horizontal and vertical directions measured by the dark-field knife-edge scan of a gold wire which was 0.3 mm in diameter. Using this FZP, we will be able to perform in situ study of the growth mechanism of nanowire (NW) in atomic scale and carry out in situ X-ray diffraction (XRD) studies of single NW during MBE growth with a micro-beam. In this work, the performance test of this focusing system is presented and preliminary applications to monitoring the growth of single NW by in situ XRD were also carried out.

論文

Double phase-plate setup for chromatic aberration compensation for resonant X-ray diffraction experiments

稲見 俊哉; 道村 真司*; 松村 武*

Journal of Physics; Conference Series, 425(13), p.132011_1 - 132011_5, 2013/03

 被引用回数:5 パーセンタイル:90.69

共鳴X線回折は軌道,磁気,電荷秩序を検出する有力な手法である。秩序変数の対称性は入射偏光と秩序パラメータの相対角依存性から決定される。極限環境下での測定に適した新しい方法では、これは、ダイヤモンド移相子を使って入射偏光回転させることによって達成される。この手法の問題点は低エネルギーX線の強度が減少することである。高い偏光度とX線強度を両立させるためわれわれは2つのダイヤモンド移相子を用い色収差補正をした光学系を構築した。SPring-8 BL22XUでのテスト実験では、300ミクロン2枚の移相子で96%の直線偏光度を6.15keVで達成した。これは、500ミクロン1枚での90%の偏光度にくらべ格段の進歩である。

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