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北原 哲夫*; 山口 秀則*; 川面 澄; 左高 正雄; 小沢 国夫*; 小牧 研一郎*; 大塚 昭夫*; 藤本 文範*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 33, p.230 - 234, 1988/00
被引用回数:0 パーセンタイル:0.00(Instruments & Instrumentation)研究タンデム加速器を用いて150MeVC1イオンを各種の厚さの炭素薄膜(2.5~360
g/cm
)に照射し、出射後のC1イオンの電荷分布と角度分布を2次元の検出器により同時に測定した。
大塚 昭夫*; 川面 澄; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 河内 宣之*; 柴田 裕実*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 33, p.304 - 307, 1988/00
被引用回数:1 パーセンタイル:40.17(Instruments & Instrumentation)バンデグラフ加速器を用いてAl薄膜(100~500A゜)からのKX線スペクトルを結晶分光器を用いて高分解能で測定した。入射イオンはH
及びH
イオンを用いて分子イオン照射効果を調べた。