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Molecular effects in KL$$^{n}$$ multiple ionization of Al for H$$^{+}$$ and H$$_{2+}$$ ion impacts

H$$^{+}$$及びH$$_{2+}$$ イオン照射により発生するAl薄膜からのAlk$$alpha$$X線に対する分子効果

大塚 昭夫*; 川面 澄; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 河内 宣之*; 柴田 裕実*

not registered; Kawatsura, Kiyoshi; Komaki, Kenichiro*; not registered; not registered; Shibata, Hiromi*

バンデグラフ加速器を用いてAl薄膜(100~500A゜)からのK$$alpha$$X線スペクトルを結晶分光器を用いて高分解能で測定した。入射イオンはH$$^{+}$$及びH$$^{+2}$$イオンを用いて分子イオン照射効果を調べた。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B

巻

 :

33

号

 :

ページ数

 :

p.304 - 307

発行年月

 :

1988/00

発表会議名

 :

12th Inter.Conf.on Atomic Collisions in Solids

開催年月

 :

1987/10

開催都市

 :

岡山

開催国

 :

キーワード

 :

分子効果

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1016/0168-583X(88)90570-8

研究データの公開先DOI

 :

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使用施設

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

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受委託・共同研究相手機関

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Access

 :

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分野：Instruments & Instrumentation

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