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Molecular effects in KL$$^{n}$$ multiple ionization of Al for H$$^{+}$$ and H$$_{2+}$$ ion impacts

H$$^{+}$$及びH$$_{2+}$$ イオン照射により発生するAl薄膜からのAlk$$alpha$$X線に対する分子効果

大塚 昭夫*; 川面 澄; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 河内 宣之*; 柴田 裕実*

not registered; Kawatsura, Kiyoshi; Komaki, Kenichiro*; not registered; not registered; Shibata, Hiromi*

バンデグラフ加速器を用いてAl薄膜(100~500A゜)からのK$$alpha$$X線スペクトルを結晶分光器を用いて高分解能で測定した。入射イオンはH$$^{+}$$及びH$$^{+2}$$イオンを用いて分子イオン照射効果を調べた。

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