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左高 正雄; 小沢 国夫*; 川面 澄; 大塚 昭夫*; 小牧 研一郎*; 楢本 洋; 藤本 文範*; 中井 洋太; 石井 慶之*
Journal of the Physical Society of Japan, 57(10), p.3352 - 3356, 1988/10
高エネルギー高電離塩素イオンを用いてビーム・フォイル分光の研究を行った。160260A゜の領域で発光スペクトルを斜入射分光器で測定した。
北原 哲夫*; 山口 秀則*; 川面 澄; 左高 正雄; 小沢 国夫*; 小牧 研一郎*; 大塚 昭夫*; 藤本 文範*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 33, p.230 - 234, 1988/00
被引用回数:0 パーセンタイル:0.02(Instruments & Instrumentation)研究タンデム加速器を用いて150MeVC1イオンを各種の厚さの炭素薄膜(2.5~360g/cm)に照射し、出射後のC1イオンの電荷分布と角度分布を2次元の検出器により同時に測定した。
大塚 昭夫*; 川面 澄; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 河内 宣之*; 柴田 裕実*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 33, p.304 - 307, 1988/00
被引用回数:1 パーセンタイル:40.23(Instruments & Instrumentation)バンデグラフ加速器を用いてAl薄膜(100~500A゜)からのKX線スペクトルを結晶分光器を用いて高分解能で測定した。入射イオンはH及びHイオンを用いて分子イオン照射効果を調べた。
川面 澄; 左高 正雄; 大塚 昭夫*; 小牧 研一郎*; 楢本 洋; 小沢 国夫; 中井 洋太; 藤本 文範*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 262, p.150 - 155, 1987/00
被引用回数:8 パーセンタイル:69.75(Instruments & Instrumentation)原研タンデム加速器を用いて行われた、ビーム・フォイル分光、X線分光及びドップラ変調分光の研究成果を紹介する。特に120MeV Clイオンを用いた実験結果を中心とする、H,He,Li様イオンの発光線の同定や励起寿命に関して得られた新しい知見について述べる。
川面 澄; 大塚 昭夫*; 左高 正雄; 小牧 研一郎*; 楢本 洋; 小沢 国夫; 中井 洋太; 藤本 文範*
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 262, p.33 - 36, 1987/00
被引用回数:3 パーセンタイル:51.92(Instruments & Instrumentation)原研タンデム加速器を用いて重イオン衝突による放射性電子捕獲(REC)について系統的に実験を行なっている。入射イオンとしては2.0~5.5MeV/amuのF,Si,S及びClイオンを用いた。ターゲットとしてはHeガスを用いた。 REC X線のピークエネルギーは計算値とほぼ一致している。 X線スペクトルの巾については計算値より低い結果となったが、まだ実験精度も十分でないので今後更に研究を進める必要がある。
大塚 昭夫*; 川面 澄; 藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 小沢 国夫; 寺沢 倫孝*
Journal of the Physical Society of Japan, 53(3), p.1001 - 1005, 1984/00
被引用回数:5 パーセンタイル:52.62(Physics, Multidisciplinary)2MV VdG加速器の重イオンを用いてBeから発生するK及びK超衛星線を結晶分光器により測定し、BeのK殻電子の単一及び二重電離断面積を求めた。入射イオンとしては0.3~1.3MeVのC,N,O及びNeイオンが用いられた。実験データはNe+Beの系を除いては2p-2pбカップリングによる分子軌道モデルによって説明された。
大塚 昭夫*; 川面 澄; 小沢 国夫; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Journal of the Physical Society of Japan, 53(7), p.2215 - 2218, 1984/00
被引用回数:1 パーセンタイル:23.76(Physics, Multidisciplinary)抄録なし
大塚 昭夫*; 小牧 研一郎*; 藤本 文範*; 川面 澄; 小沢 国夫; 嶋田 寿一*
Japanese Journal of Applied Physics, 22(8), p.1306 - 1309, 1983/00
被引用回数:1 パーセンタイル:11.45(Physics, Applied)2MV及び5.5MV Van de Graaff加速器を用いて、ラザフォード後方散乱法によりアモルファスSi中にドープされた数%の希ガス原子のHeイオンに対する阻止能を測定した。Heイオンのエネルギーは8%Arを含んだ試料では1.0~2.6Mev、7%Kr又は4%Keを含んだ試料では1.0~1.6MeVであった。Bragg則とZieglerによるSiの阻止能を用いて希ガスの阻止能を求めることができた。その結果、イオンエネルギー1MeV近辺ではガス状態に対するZiegierの値より約30%低くなることが明らかとなった。
大塚 昭夫*; 藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 川面 澄; 小沢 国夫; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 97(5), p.191 - 193, 1983/00
2MV VdG加速器を用いて分子イオン効果の実験を行った。0.8~0.95Mev/amuのHおよびHイオンを厚さ100と300のAlO薄膜に照射した。発生するAl K X線スペクトルを結晶分光器を用いて測定した。分光結晶としてはPET(2d=8.74を用いた。KLX線とKLX線の強度比を求めると、膜厚100では10%、300では4%各々Hイオン入射の方がHイオン入射より大きくなった。この結果、AlL殻の電離確率は分子イオン入射の方が単原子イオン入射に比べて大きくなっていることがわかる。
川面 澄; 大塚 昭夫*; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 寺澤 倫孝*
Nuclear Instruments and Methods, 170(1-3), p.265 - 268, 1980/00
抄録なし
小沢 国夫; 川面 澄; 藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 寺沢 倫孝*
Atomic Collision Res.,Prog.Rep., (4), p.62 - 63, 1978/04
重イオン衝撃によるCr,Mn,Fe,Co等の3d元素のL X線スペクトルは非常に複雑であり、HFS法による解析はSatelliteやHypersatelliteが数多く重なり合っていること示している。その外、電子昇位による3d電子のN殻への移動によって引起される低エネルギー側のサテライト・ピークも観測される。本レポートに今までの成果の要約を述べる。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Atomic Collision Res.in Jpn.,Prog.Rep., (4), p.60 - 61, 1978/04
HやHeのような軽イオンを衝撃する時、内殻電離はクーロン相互作用によって引起される。この時、K殻の二重電離断面積はE/U=1で最大となり、入射イオンのZに比例することを見出し、すでにいくつかの論文として発表した。本レポートに今までの成果の要約を述べることとした。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 60(4), p.327 - 329, 1977/04
原研2MV Van de Graff加速器を用いて0.25~2.0MeVのH,He,N,Ne,Arイオン衝撃によるBe及びBeOからのX線発揮スペクトルを結晶分光器を用いて調べた。 得られた結果は次のようになる。(1)BeからのK X線は108.5eV,K,X線(K殻の二重電離)は146.1eVでありHFSによる計算結果とほぼより一致を示す。(2)Be原子のK殻電離機構は軽イオンの場合には直接のクーロン相互作用によって、重イオンの場合には電子昇位モデルによって説明される。(3)BeOの場合には化学結合効果によって低エネルギー側へシフトし、Be-K及びKX線は、それぞれ104.6eV及び143.3eVとなる。エネルギーシフトは各々-4.1eV及び-3.8eVである。(4)それぞれの主線から約11.5eV高エネルギー側にKL及びKLX線が現われる。これは重イオンによる外殻電子の多重電離と電子昇位に基づく内殻電子の電離の増加を通して起こる。そしてこの遷移による電子はO原子の価電子から生じていることがエネルギー準位の計算から示される。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 64(3), p.282 - 284, 1977/03
原研2-MV VdGを用いて、H及びHeイオン励起によるBe,B及びO原子の二重K殻電離によるHypersatellite X線スペクトルをBragg型の結晶分光器を用いて測定した。得られた電離断面積の比б(He)/б(H)は入射イオンの核電荷Zの4乗に比例することが見出された。これはбのZ依存性に関するはじめての観測結果であり、クーロン力による電離を仮定した二体衝突近似(BEA)の結果と一致していることがわかる。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 58(7), p.446 - 448, 1976/07
原研の2MV VdGを用いて、陽子、ヘリウム、窒素、アルゴン等の荷電粒子をLiO、BeO、BO、MgO、AlO、SiOの酸化物ターゲットに照射し、発生したX線をBragg型の結晶分光器で測定した。KX線以外にKL、K、KL等の多重電離によるX線を観測した。 クーロン励起による電離機構が支配している領域において、K殻の二重電離の断面積がZ依存性からはずれることが見出された。
藤本 文範*; 川面 澄; 小沢 国夫; 寺沢 倫孝*
Phys.Lett.,A, 57(3), p.263 - 264, 1976/03
陽子及びヘリウムイオン衝撃したBe標的から発生するX線を結晶分光器にて測定した。Be K-X線以外に146.1eVにBe K-X線をヘリウム衝撃の場合には観測できたが陽子の場合には観測できなかった。入射粒子の電荷(Z)による内殻二重電離断面積の相違について理論と比較検討した。
川面 澄; 小沢 国夫; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Ion Beam Surface Layer Analysis, Vol.2, p.719 - 725, 1976/00
ステアリン酸Pbの平面結晶を用いた分散型分光器を用い、0.5~2MeVの陽子及びHeイオンの軽イオン照撃に依るB及びBN結晶のK殻に対する単一及び2重イオン化過程の絶対断面積が測定された。主な結果は次の通りである。1)陽子及びHeイオンの単一K殻イオン化過程では測定された断面積はBEA近似と良い一致を示した。2)BのKX線〔B=183eV,BN=181eV〕に加えて、He照射の場合にBの2重イオン化に依るKX線が(230eV及び226eVに各々)見出された。一方陽子照射ではK-X線は見出されず、重イオン照射の特徴を示す。3)2重イオン化に依るKX線の断面積に対するHeイオンのエネルギー依存は375KeV/amuにピークを持つ放物線近似で示された。4)BNとBターゲットのK及びKX線のエネルギーシフトはChemical bondingの効果で説明された。
小沢 国夫; 川面 澄; 藤本 文範*; 寺沢 倫孝*
Nuclear Instruments and Methods, 132, p.517 - 520, 1976/00
分散型分光器を用いた軽原子K-X線発生の機構がB及びBNターゲットに対し、2MVdGのN及びAイオン(300keV~1.8MeV)を用いて調べられた。主な結果は次の通りである。1)加速イオンのエネルギー依存性からPanli excitationが支配的で且つ多重イオン化の仮定にもとづくX-rayが観測された。2)Bターゲットのスペクトルは、単一(183.0ev)及び二重K殻イオン化(230ev)から成り立つ2ピークを見出した。3)BNターゲットでは単一及び二重イオン化のK-X線に各々2個及び1個のサテイライトを見出し、強化比のエネルギ依存性を調べた。4)3)の事実は高エネルギーサテイライトは、Bの1s、2pの2重イオン化状態へNの2pからの転移〔N(2p)B(1s,2p)〕に基づく事を示す。5)単一及び2重K殻イオン化のピーク3度の加速イオンのZ、依存が調べられ測定エネルギ領域に亙り単一イオン化に対しZ2重イオン化に対しZ、依存のスケーリング則が存在することを明らかにした。
藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 丸山 倫夫; 小沢 国夫; 杉山 康治
Nuclear Instruments and Methods, 132, p.175 - 178, 1976/00
単結晶を用いた核反応時間の測定法として、既にブロッキング効果を利用した10sec程度の核寿命を測定したが、結晶を用いた別の寿命測定として線を伴う核反応の線のdoppler減衰法を用いる事で可能にする事を試みた。此れは線を放射しながら減衰する核が結晶格子点から結晶軸方向に走り、隣接するの大きい原子で散乱される時doppler attenuationとして寿命測定を可能にする。我々は、ターゲット結晶としてUN結晶を採り上げ、1.7MeV重陽子のN(d,p)N反応の励起核の寿命測定を試み、Ge(Li)に依る線スペクトルと放出陽子のCoincidence法や放射線損傷モニターのpsd検出により、比較的厚い結晶を用いて実験を行い、有意の核反応時間測定が可能な事を見出した。主に原理と使用した実験手法に重点をおいて述べる。
小沢 国夫; 藤本 文範*; 小牧 研一郎*; 万波 通彦*; 桜井 照夫*
Phys.Status Solide, 9, p.323 - 332, 1972/00
抄録なし