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2 surfaces by O 1s photoemission spectroscopy using synchrotron radiation末光 眞希*; 加藤 篤*; 富樫 秀晃*; 今野 篤史*; 山本 喜久*; 寺岡 有殿; 吉越 章隆; 成田 克*; 遠田 義晴*
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1, 46(4B), p.1888 - 1890, 2007/04
被引用回数：12 パーセンタイル：43.87(Physics, Applied)リアルタイムX線光電子分光法を用いてSi(110)の所期酸化が調べられた。O 1s光電子スペクトルの時間発展はわずかに1.5L相当の酸素導入によっても急速に酸化が進むことを示した。最初の酸化は比較的小さい結合エネルギー成分が主であるが、徐々に比較的大きな結合エネルギー成分に置き換わる。従来知られているSi(111)のドライ酸化のO 1s光電子スペクトルと比較して、Si(110)-162表面のアドアトムかその周辺で酸化が起こると推察される。
馬場 祐治; 関口 哲弘; 下山 巖; Nath, K. G.*; 平尾 法恵*
no journal, ,
バイオセンサー,バイオチップなどさまざまな表面機能性材料としての応用が期待されている生体分子薄膜の電子構造と電子物性を明らかにすることを目的として、アミノ酸,ヌクレオチド,DNAなど生体分子薄膜のX線吸収スペクトル及び放射光共鳴オージェ電子分光スペクトルを測定した。DNA薄膜のリンK-吸収端のX線吸収スペクトルには、2153eVにP 1s軌道から価電子帯のP 3p*非占有軌道への共鳴励起による鋭いピークが観測された。このエネルギー前後においてオージェ電子スペクトルを測定した結果、P KL2,3L2,3オージェピークは通常のオージェピークと共鳴オージェピークの2本に分裂した。また共鳴オージェピークには6.5eVにおよぶオージェ共鳴ラマン散乱によるエネルギーシフトが観測された。これは、P 3p*非占有軌道へ励起された電子がオージェ遷移の間、P 3p*軌道に完全に局在しているためであり、DNA分子のリン酸-糖にそった一次元鎖の絶縁性が高いことを示している。
Deng, J.; 関口 哲弘; 馬場 祐治; 平尾 法恵*
no journal, ,
放射光軟X線を用いたX線吸収分光法及びX線光電子分光法により、有機ELデバイスなど有機機能性薄膜材料としての応用が期待されているシリコンフタロシアニン分子薄膜の配向性について調べた。高配向性グラファイト(HOPG)基板上に、シリコンフタロシアニン二塩化物のヘキサン溶液を滴下した後、空気中で345
Cに加熱した試料では、Si-Cl結合が解裂してSi-O結合に変化することがわかった。この試料のSi及びCl K-吸収端のX線吸収スペクトルには放射光の入射角依存性が明瞭に認められた。偏光解析の結果、Si-N結合は表面に平行であるのに対し、Si-O結合は表面に垂直であることが明らかとなった。
