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辺見 努; Harjo, S.; 伊藤 崇芳; 松井 邦浩; 布谷 嘉彦; 小泉 徳潔; 高橋 良和; 中嶋 秀夫; 相澤 一也; 鈴木 裕士; et al.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), p.2028 - 2031, 2011/06
被引用回数:10 パーセンタイル:50.46(Engineering, Electrical & Electronic)熱処理温度923Kから運転温度5KまでのNbSn素線とステンレス鋼の熱膨張率の違いによって導体内には残留歪が生じる。Nb
Sn素線の超伝導特性は残留歪の状態によって大きく変化するため、その特性を評価するためには残留歪の状態を把握する必要がある。しかし、複雑な構造とジャケット材の内側に素線が配置されているため、導体内の素線の歪を直接測定した研究はこれまでない。一方、J-PARCで2008年から運転が開始された工学材料回折装置「匠」は中性子回折を用いて歪として相対精度0.02%で測定することが可能である。本研究では、匠による中性子回折をITER TF導体の残留歪の測定に適用した。中性子回折では格子面間隔の変化により導体内の各相の歪を決定することが可能である。これにより、素線の残留歪の発生機構及び歪状態と超伝導性能の関係を明らかにすることが可能となった。
布谷 嘉彦; 名原 啓博; 吉川 正敏*; 松井 邦浩; 辺見 努; 高橋 良和; 礒野 高明; 小泉 徳潔; 中嶋 秀夫; Stephanov, B.*; et al.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), p.1982 - 1986, 2011/06
被引用回数:21 パーセンタイル:69.61(Engineering, Electrical & Electronic)日本原子力研究開発機構(JAEA)は、ITERの要求性能を満たすITER TF NbSn超伝導導体を開発し、ITER TFコイル実機に使用する導体の製作を開始した。TFコイル導体の製作を継続するために、製作した導体が要求性能を満足することの実証を目的とし、製作手法の異なる2種類のNb
Sn素線より製作した導体を用いてサンプルを製作し性能評価試験をスイス・ローザンヌ工科大学のサルタン試験装置により行った。製作したサンプルの長さは各々約3mで、各導体の表面に取り付けた温度センサと電圧タップを用いて分流開始温度(Tcs)を10.78Tの外側磁場で計測し、性能評価を行った。その結果、Tcs値は通電回数とともに低下する傾向が初期に各々見られたが、最終的に落ち着き、それぞれ6.1Kと6.0Kであった。これらの値は、ITER TF導体の要求値5.7Kを満たし性能の実証を行うことができた。
村上 陽之; 市毛 寿一; 木津 要; 土屋 勝彦; 吉田 清; 尾花 哲浩*; 濱口 真司*; 高畑 一也*; 柳 長門*; 三戸 利行*; et al.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), p.1991 - 1994, 2011/06
被引用回数:2 パーセンタイル:18.7(Engineering, Electrical & Electronic)JT-60SA装置の平衡磁場(EF)コイルは、最大経験磁場が6.2Tと比較的小さいため、NbTi素線を用いたケーブル・イン・コンジット導体により製作される。実機に使用される導体の量産に先立って、導体の超伝導特性を確認するため、実機導体を用いた性能評価試験を日本原子力研究開発機構(JAEA)と核融合科学研究所(NIFS)が共同で実施し、Tcs(分流開始温度)及びMQE(最小クエンチエネルギー)が測定された。試験の結果、実機導体は設計通りのTcsを持ち平衡磁場コイルの運転に支障がないこと、また運転領域(最大通電電流20kA,最大磁場6.2T)におけるMQEが高く、平衡磁場コイルの運転を安定に行えることが確認できた。本講演ではこれらの性能評価試験について報告する。
梶谷 秀樹*; 石山 敦士*; 小泉 徳潔; 村上 陽之; 中嶋 秀夫
IEEE Transactions on Applied Superconductivity, 21(3), p.1964 - 1968, 2011/06
被引用回数:3 パーセンタイル:24.43(Engineering, Electrical & Electronic)ITER-TF導体の性能検証を目的として、短尺導体を用いて実施しているサルタン試験では、電気的接続部での超伝導線の接触抵抗の不均一等によって、導体内に電流分布の不均一が発生し、正確な性能評価を困難としていた。そこで、電気的接続部を半田含浸して、その影響を緩和する手法が採用された。この半田含浸する方法の有効性を検証することを目的として、電気的接続部に分布定数回路、導体部に集中定数回路を仮定して、これらを結合することで短時間で電流分布を計算することを可能とするモデルを開発した。本モデルによる常電導転移後の電界の解析結果は、試験結果とよく一致し、開発したコードの妥当性が検証できた。さらに、解析結果より、サンプル励磁後には電流分布の不均一が発生するが、電流を過剰に流す一部の素線から常伝導転移が生じて、その結果として、電流分布が均一化されることがわかった。これにより、半田含浸する方法の妥当性を検証することもできた。