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大内 正博
日本原子力学会誌, 23(5), p.353 - 354, 1981/00
高放射性物質の表面状態および構成元素の種類、分布状態を調べるのに一般に使用されている極普通のX線マイクロアナライザーと同様な操作、即ちホットセルやマニプレータなど使用せず直接操作することができないかを検討して、使い易い鏡筒遮蔽型のX線マイクロアナライザーを設計、製作した経緯を述べた。また本装置を用いた実験結果を検討評価し、新しい照射後試験項目として充分提供し得ることを確認した。
