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五十嵐 潤一; 長尾 辰哉*
Journal of the Physical Society of Japan, 72(5), p.1279 - 1286, 2003/05
被引用回数:13 パーセンタイル:61.28(Physics, Multidisciplinary)DyBC
における四重極秩序相におけるDyのL吸収端における共鳴X線散乱スペクトルを研究した。BとC原子の層の ゆがみを解析して、副格子ごとに違う主軸をもつ結晶場の有効モデルを構成した。5d状態はバンドとして扱い、4f状態は局在状態として扱い、双極子近似の範囲でスペクトルを計算した。格子歪が直接5d状態を変調する機構と格子歪により変調を受けた4f状態がクーロン相互佐用を通して5d状態を変調するとの機構の両方を調べて、前者の機構が圧倒的に大きいことを見いだした。
高橋 学*; 薄田 学; 五十嵐 潤一
Physical Review B, 67(6), p.064425_1 - 064425_7, 2003/02
被引用回数:21 パーセンタイル:68.37(Materials Science, Multidisciplinary)KCuFにおけるCuのK端での磁気共鳴X線散乱スペクトルを第一原理計算から求めた。フルポテンシャルLAPW法を用いて、格子歪みは実験から得られたものを入力した。スピン軌道相互佐用を考慮することで、磁気秩序に対応する超格子点でのブラッグ強度の実験結果を良く再現する結果を得た。また、軌道秩序に対応する超格子点でのブラッグ強度もよく再現でき、その強度が格子歪から来ていることを明らかにすることができた。
久保園 芳博*; 三村 和江*; 高林 康裕*; 前田 裕宣*; 柏野 節夫*; 江村 修一*; 西畑 保雄; 宇留賀 朋哉*; 田中 庸裕*; 高橋 昌男*
Journal of Synchrotron Radiation, 6(Part3), p.564 - 566, 1999/05
擬一次元系ポリマーであるRbCの約50Kでの金属-絶縁体相転移の起源を明らかにするために、RbC
安定相のRb-K吸収端でのXAFSが、14.6から210Kの温度範囲で測定された。XAFSによって決められたRbとCの原子間距離と平均自乗変位は50Kで異常を示さず、その金属-絶縁体相転移はSDW不安定性を起源としていることが示唆される。
依田 修
Polym.Commun., 26, p.16 - 19, 1985/00
ポリ(エーテル-ケトン)(PEEK)の放射線損傷を、分子鎖方向を配向させた結晶化試料を作成して、分子鎖方向の微結晶サイズと格子歪の観点から調べた。PEEKは5000Mrad電子線照射によって結晶長を約15%減じるが、格子歪は変化しない。また、理想的2相モデルを小角散乱パターンに適用することにより、非晶相で折りたたみ鎖を含むフオルドラメラ構造をもつことが示唆された。
依田 修; 栗山 将
J.Mater.Sci., 14(7), p.1733 - 1743, 1979/00
被引用回数:13リニアポリエチレンに500Mrad以上の大量の線を照射したときの、結晶のサイズ分布と格子歪の変化をX線のプロフィル解析により調べた。微結晶のサイズ分布はラテラル方向ではある線量に達しないと変化しないのに対し分子鎖方向は照射線量と共に減少する。これは照射によってラメラ表面から架橋が生成し、微結晶を分子鎖方向から崩壊させるためと考えられる。
依田 修; 栗山 将
J.Polym.Sci.,Polym.Phys.Ed., 15(5), p.787 - 793, 1977/05
高温(100C)で圧延したポリエチレン(PZ)の[100]方向における微結晶サイズの分布と格子歪を、PZ200プロフィルの解析によって求めた。圧延比の小さな領域では、微結晶の[100]方向の破壊が起るが、圧延比の大きな領域では破壊は起らない。前報(?)の結果と併せて、圧延比の小さなところでは、微結晶の配向は、結晶内スリップによって、圧延比の大きな領域では結晶間スリップによって微結晶が配向することを明らかにした。 格子歪には、圧延による差異は認められなかった。これは変形温度が高いことによるものと思われる。
依田 修; 田村 直幸; 土井 健治
J.Mater.Sci., 11(4), p.696 - 702, 1976/04
被引用回数:10一軸延伸ポリエチレンの結晶サイズの分布と格子歪を分子鎖方向とラテラル方向の両方向について解析した。ラテラル方向において、結晶は、延伸によって細分化されるが、その崩壊の仕方は冷延伸の場合と温延伸の場合で異なり、独自の称式をもつ。分子鎖方向では、微結晶のサイズに2成分あり、それぞれの成分の全量の比は、冷延伸、温延伸のいずれの場合も保存される。格子歪は冷延伸のラテラル方向の場合を除き、いずれもストレイン型とパラクリスタル型の重ね合せで説明され、そのパラクリスタル歪の大いさは、Hosemannらの値とほぼ一致する。
依田 修; 土井 健治; 田村 直幸; 栗山 将
Journal of Applied Physics, 44(5), p.2211 - 2217, 1973/05
被引用回数:15ポリエチレン結晶の(110)面に垂直な方向の微結晶サイズの分布と格子歪を110デバイ-シエラ-線のプロフィルを解析することにより求めた。用いた試料はリニアポリエチレンの粉末、単結晶マット及び分岐度の異なる数種類のブランチポリエチレン粉末である。微結晶サイズの分布には試料に共通に100、250
、350
および450
に極大を生じるが、分岐度の最も多い試料では350
と450
のピークは消失する。格子歪に関しては、ポリエチレン結晶のそれは単にパラクリスタル的ともストレインタイプともいえず、一般的には両者の重ね合せで説明できることがわかった。
依田 修; 土井 健治
Reports on Progress in Polymer Physics in Japan, 15, p.157 - 160, 1972/00
ポリエチレンの微結晶サイズの分布と格子歪を著者の1人(土井)の開発した方法によって解析した。解析した試料は粉末(Sholex6050)と、それを85C、70
Cで等温結晶化した単結晶マットである。微結晶サイズの分布には試料に共通に200
、300
、450
付近にピークがあるが、粉末試料にはこの他に100
、700
にもピークをもつ。粉末試料の格子歪はいわゆる$パ$ラクリスタル$的$歪の存在がみられる。単結晶マットはいずれも歪は小さいが特に85
Cで結晶化したものにはほとんど歪の存在がみとめられない程である。