not registered; not registered; not registered; Kuriyama, Isamu
ポリエチレン結晶の(110)面に垂直な方向の微結晶サイズの分布と格子歪を110デバイ-シエラ-線のプロフィルを解析することにより求めた。用いた試料はリニアポリエチレンの粉末、単結晶マット及び分岐度の異なる数種類のブランチポリエチレン粉末である。微結晶サイズの分布には試料に共通に100
、250、350および450に極大を生じるが、分岐度の最も多い試料では350と450のピークは消失する。格子歪に関しては、ポリエチレン結晶のそれは単にパラクリスタル的ともストレインタイプともいえず、一般的には両者の重ね合せで説明できることがわかった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 44 |
号 |
: | 5 |
ページ数 |
: | p.2211 - 2217 |
発行年月 |
: | 1973/05 |
キーワード |
: | Crystallite Size; Lattice Distortion; Polythylene; Line Profile |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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