大山 直幸; 三浦 幸俊; Chankin, A. V.; 竹永 秀信; 朝倉 伸幸; 鎌田 裕; 及川 聡洋; 篠原 孝司; 竹治 智
Oyama, Naoyuki; Miura, Yukitoshi; Chankin, A. V.; Takenaga, Hidenobu; Asakura, Nobuyuki; Kamada, Yutaka; Oikawa, Toshihiro; Shinohara, Koji; Takeji, Satoru
反射計によるtype I ELMの詳細測定の結果、ELMによる密度ペデスタルの崩壊はプラズマの弱磁場側に局在化していることが予想された。そこで、反射計とFIR干渉計を用いてプラズマの弱磁場側と強磁場側の同時密度計測を行い、ポロイダル非対称性を確認する実験を行った。反射計の位相変化から評価した弱磁場側反射層の変位は約5cmであった。この変位に対応する強磁場側干渉計の密度変化を評価したところ
と見積もられたが、実際の観測では強磁場側における密度変化は観測されていない。つまり、ELMによる密度ペデスタルの崩壊は弱磁場側に局在化していることを示している。また、ELMに伴う周辺部密度増加の詳細を調べるため、プラズマを水平方向に動かした時の密度変化を測定した。その結果、強磁場側ではELMによる密度の吐き出しは観測されない、つまり強磁場側の密度ペデスタルは壊れていないことを確認するとともに、周辺部干渉計で観測された線積分密度の増加はスクレイプオフ層とペデスタル部における密度増加が支配的であることを明らかにした。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 43 |
号 |
: | 10 |
ページ数 |
: | p.1250 - 1257 |
発行年月 |
: | 2003/10 |
発表会議名 |
: | 8th IAEA Technical Committee Meeting on H-mode Physics and Transport Barriers |
開催年月 |
: | 2001/09 |
開催都市 |
: | Toki |
開催国 |
: | Japan |
キーワード |
: | Type I ELM; Collapse; Pedestal; Asymmetry; Reflectometer; Interferometer |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：45.98 分野：Physics, Fluids & Plasmas |
Altmetrics |
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