検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

New evaluation beamline for soft X-ray optical elements

軟X線光学素子のための新しい評価ビームライン

小池 雅人; 佐野 一雄*; 依田 修; 原田 善寿*; 石野 雅彦; 森谷 直司*; 笹井 浩行*; 竹中 久貴*; Gullikson, E. M.*; Mrowka, S.*; 神野 正文*; 上野 良弘*; Underwood, J. H.*; 波岡 武*

Koike, Masato; Sano, Kazuo*; Yoda, Osamu; Harada, Yoshihisa*; Ishino, Masahiko; Moriya, Naoji*; Sasai, Hiroyuki*; Takenaka, Hisataka*; Gullikson, E. M.*; Mrowka, S.*; Jinno, Masafumi*; Ueno, Yoshihiro*; Underwood, J. H.*; Namioka, Takeshi*

軟X線光学素子の波長依存性,角度依存性絶対効率を測定するために開発した装置について述べる。この装置は立命館大学にある超電導コンパクトリングAURORAのBL-11に設置された。0.5nm$$<lambda<$$25nmの広い波長領域をカバーするために2種類のMonk-Gillieson型分光器を装備している。一台は二偏角を持つ不等間隔溝回折格子を用いる従来型で、他方は表面垂直回転(SNR)の波長走査を用いる新型である。このシステムの紹介と、軟X線多層膜,同回折格子,フィルターについての測定結果について述べる。測定値はローレンス・バークレー研究所ALSにおける測定値とよい一致を見せ、システムの信頼性が確認できた。またSNRを用いた分光器ではALS'の同等の従来型分光器では測定不可能な1.5keV(~0.8nm)にあるアルミニウムのK端が測定でき、シミュレーションによる透過率とよく一致した。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

パーセンタイル:27.44

分野:Instruments & Instrumentation

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.