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Observation of resistive wall modes in JT-60U

JT-60Uにおける抵抗性壁モードのMHD特性

竹治 智; 徳田 伸二; 栗田 源一; 鈴木 隆博; 諫山 明彦; 武智 学; 大山 直幸; 藤田 隆明; 井手 俊介; 石田 真一; 鎌田 裕; 及川 聡洋; 坂本 宜照; 津田 孝; JT-60チーム

Takeji, Satoru; Tokuda, Shinji; Kurita, Genichi; Suzuki, Takahiro; Isayama, Akihiko; Takechi, Manabu; Oyama, Naoyuki; Fujita, Takaaki; Ide, Shunsuke; Ishida, Shinichi; Kamada, Yutaka; Oikawa, Toshihiro; Sakamoto, Yoshiteru; Tsuda, Takashi; JT-60 Team

JT-60Uにおいて、低トロイダルモード数nの電流駆動型(規格化ベータ$$beta_{N}leq$$0.2)及び圧力駆動型($$beta_{N}geq$$2.4)理想MHDキンクモードの壁安定化にかかわる抵抗性壁モード(RWM)を同定し、そのMHD特性を明らかにした。まず、電流駆動型RWMの場合、導体壁の磁場染込み時間$$tau_{w}$$の5-10倍の成長率をもち、圧力駆動型RWMの場合は$$tau_{w}$$の1-10倍の成長率をもつこと、また、圧力駆動型RWMは$$tau_{w}$$の数倍程度までの周期のモード周波数を伴うことがわかった。また、圧力駆動型RWMは、プラズマがアルフベン速度の1%程度のプラズマトロイダル回転をもつ状態で発生し、その発生時に顕著なトロイダル回転速度の低下を伴わないことがわかった。さらに、圧力駆動型RWMの発生後に起こるプラズマ崩壊(放電の終了)は、10$$tau_{w}$$程度で成長するRWMの成長率がその10倍以上に急速(0.1ms以内)に変化した直後に起こることを明らかにした。

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