Miyashita, Atsumi; Yoda, Osamu; not registered
LAPXAS(Laser Plasma Soft X-ray Absorption Spectroscopy)装置の構成と、それを用いたアブレーション粒子計測への応用について述べた。X線吸収分光を用いることにより、中性原子、荷電粒子にかかわらず、基底状態、励起状態のいずれの状態であっても測定可能であるなど、従来法では困難であった測定が可能になった。LAPXASを用いて炭素、ホウ素、シリコンのレーザーアブレーション粒子の時間空間分解測定を行った結果、正イオンの最大速度は中性原子や負イオンより速いことがわかった。局所希ガス雰囲気でのレーザーアブレーション粒子の分布を測定した結果、ヘリウムガス雰囲気ではアブレーションプルームの先端に生じたヘリウムガスの高密度領域によってアブレーションプルームは押し縮められるがアルゴンガス雰囲気ではレーザーアブレーション後15
sまでの時間帯ではシリコンクラスタの生成はないことがわかった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 20 |
号 |
: | 3 |
ページ数 |
: | p.180 - 185 |
発行年月 |
: | 1999/00 |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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