An Automated single ion hit at JAERI heavy ion microbeam to observe individual radiation damage

個別照射損傷観察のための重イオンマイクロビームを用いた自動シングルイオンヒット

Kamiya, Tomihiro; Sakai, Takuro; not registered; not registered; Hirao, Toshio

原研高崎重イオンマイクロビーム装置において、マイクロビーム走査、試料描画及びシングルイオンヒットシステムが組み合わされて自動ビーム照準シングルイオン照射システムが製作された。これを用いてあらかじめ設定された任意のヒットパターンで短時間にかつ自動的に試料へのシングルイオン照射が可能である。この技術は、シングルイベント過渡電流測定等により、1つ1つのイオンの入射に伴う個々の照射損傷を評価するために確立されたものである。今回の実験では、固体飛跡検出器CR-39を用いて、シングルイオンヒットパターンと照射位置精度の評価を行った。また、粒子検出器としてのSi PINフォトダイオードへの同一ヒットポイントへのくりかえしシングルイオン照射によって、個別の損傷の蓄積効果を観察した。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B
巻	:	158
号	:	1-4
ページ数	:	p.255 - 259
発行年月	:	1999/00
発表会議名	:	6th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications
開催年月	:	1998/10
開催都市	:
開催国	:	South Africa
キーワード	:	重イオンマイクロビーム; 自動ビーム照準; シングルイオン照射; ヒットパターン; 過渡電流; 照射損傷; CR-39; 照射位置精度; Si PINフォトダイオード

特許データ	:
PDF	:

論文URL	:	https://doi.org/10.1016/S0168-583X(99)00325-0
研究データの公開先DOI	:
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広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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InCites™	:	パーセンタイル：46.78 分野：Instruments & Instrumentation
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登録番号 : B19980125
抄録集掲載番号 : 271309
論文投稿番号 : 17044

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