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R&D activity of SAGBO avoidance for the CS insert fabrication

CSインサート製造上のSAGBO回避のためのR&D結果

杉本 誠; 礒野 高明; 小泉 徳潔; 中嶋 秀夫; 加藤 崇; 濱田 一弥; 布谷 嘉彦; 松井 邦浩; 澤田 健治*; 高橋 良和; 安藤 俊就; 辻 博史; 市原 直*; 湊 恒明*; 池田 文章*; 村井 等*; 吉村 秀人*

Sugimoto, Makoto; Isono, Takaaki; Koizumi, Norikiyo; Nakajima, Hideo; Kato, Takashi; Hamada, Kazuya; Nunoya, Yoshihiko; Matsui, Kunihiro; Sawada, Kenji*; Takahashi, Yoshikazu; Ando, Toshinari; Tsuji, Hiroshi; Ichihara, T.*; Minato, T.*; not registered; not registered; not registered

CSインサート・コイル製造のため、応力下酸化割れ(SAGBO,Stress Accelerated Grain Boundary Oxidation)を回避するためのR&Dを、短試験片を用いて行った。この結果について報告する。短試験片でのSAGBO発生試験では、導体に施工されたクロム・メッキの有無ならびに、溶接箇所により、SAGBO割れの発生がみられた。これに回避するための溶接箇所の変更を行い、かつCSインサート製造工程をすべて反映したサンプルを製作した。本サンプルにてSAGBO発生実験を行い、SAGBO割れを発生することなく、CSインサートの熱処理が可能であることを実証した。

no abstracts in English

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パーセンタイル:17.08

分野:Engineering, Electrical & Electronic

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