Critical scaling analysis of transport characteristics before and after heavy-ion irradiation in a YBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ thin film

重イオン照射前後におけるYBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ 薄膜の輸送特性のスケーリング解析

末吉哲郎*; 石川法人 ; 岩瀬彰宏; 知見康弘; 木須隆暢*; 藤吉孝則*; 宮原邦幸*

Sueyoshi, T.*; Ishikawa, Norito; Iwase, Akihiro; Chimi, Yasuhiro; Kisu, T.*; Fujiyoshi, T.*; Miyahara, K.*

YBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ 薄膜に200MeVのAuイオンを照射し、電流-電圧特性を磁場中で測定した。その結果、磁束のグラス温度が増加し、動的臨界指数が増加した。その結果は通常のグラス理論やボーズグラス理論に合わない。照射後の特性をデピニングモデルに基づいて説明することができた。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Advances in Superconductivity XI
巻	:	1
号	:
ページ数	:	p.593 - 596
発行年月	:	1999/00
発表会議名	:	11th Int. Symp. on Superconductivity
開催年月	:	1998/11
開催都市	:	福岡
開催国	:
キーワード	:	YBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ ; イオン照射; グラス理論

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登録番号 : B19981350
抄録集掲載番号 : 271368
論文投稿番号 : 17103

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Critical scaling analysis of transport characteristics before and after heavy-ion irradiation in a YBaCuO thin film

重イオン照射前後におけるYBaCuO薄膜の輸送特性のスケーリング解析

Critical scaling analysis of transport characteristics before and after heavy-ion irradiation in a YBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ thin film

重イオン照射前後におけるYBa $_{2}$ Cu $_{3}$ O $_{7-delta}$ 薄膜の輸送特性のスケーリング解析