牛草 健吉; 近藤 貴; 内藤 磨; 池田 佳隆; 井手 俊介; 関 正美; S.W.Wolfe*; 佐藤 正泰; 鎌田 裕; 伊丹 潔; 今井 剛
Ushigusa, Kenkichi; Kondoh, Takashi; Naito, Osamu; Ikeda, Yoshitaka; Ide, Shunsuke; Seki, Masami; S.W.Wolfe*; Sato, Masayasu; Kamada, Yutaka; Itami, Kiyoshi; Imai, Tsuyoshi
低域混成波電流駆動(LHCD)時の高速電子の直接損失を、ダイバータ板から放射されるX線測定により同定した。高速電子の直接損失は電子密度及び励起される波のN
の増大とともに減少し、LH波により加速された高速電子の減速時間で特徴づけられることを明らかにした。JT-60Uの1.2MA放電で電子密度0.5
10
m
において最も高い電流駆動効率が観測された例では、入射パワーの5~10%が高速電子の損失であると評価された。また、高速電子の閉じ込めがプラズマ電流の増大とともに改善されることが見い出された。これらの実験結果から、ITERの定常運転時の高速電子の直接損失がほぼ無視できる程度であると推定される。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 32 |
号 |
: | 11 |
ページ数 |
: | p.1977 - 1983 |
発行年月 |
: | 1992/00 |
キーワード |
: | LHCD; Direct Loss; Energetic Electrons; JT-60U; ITER; X-ray Measurement; Slowing Down Time |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：41.42 分野：Physics, Fluids & Plasmas |
Altmetrics |
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