Micromagnetic domain observations of Co-Cr films by neutron scattering

中性子散乱によるCo-Cr磁気に薄膜の微細ドメイン構造

not registered; Suzuki, Junichi; not registered; Morii, Yukio

高密度磁気記録材料Co-22at.%Crにおいて組成分離に伴う微細磁気構造が存在することを中性子散乱により明らかにした。組成分離は150 $^{circ}$ Cから400 $^{circ}$ Cの作成基板温度で顕著となる。200 $^{circ}$ Cの基板温度では10nm程度の最も微細な磁気ドメイン構造が観測され、より高密度な磁気記録材料としての応用の可能性を示す。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	IEEE Transactions on Magnetics
巻	:	30
号	:	6
ページ数	:	p.4029 - 4031
発行年月	:	1994/11
発表会議名	:
開催年月	:
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キーワード	:	Co-Cr; Thin Film; Magnetic Recording; SANS; Micromagnetic Domain

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論文URL	:	https://doi.org/10.1109/20.333979
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登録番号 : A19950022
抄録集掲載番号 : 230432
論文投稿番号 : 13049

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