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Ion irradiation effects of EuBa$$_{2}$$Cu$$_{3}$$O$$_{y}$$ thin film

EuBa$$_{2}$$Cu$$_{3}$$Oy薄膜におけるイオン照射効果

石川 法人   ; 岩瀬 彰宏; 岩田 忠夫; 前田 裕司; 鶴 浩二*; 道上 修*

not registered; Iwase, Akihiro; Iwata, Tadao; Maeta, Hiroshi; not registered; not registered

本研究では、EuBa$$_{2}$$Cu$$_{3}$$O$$_{y}$$薄膜について、1MeVのHeイオンの照射をしたときの、不可逆曲線及び臨界電流密度といったピニング特性のイオン照射効果を調べた。1MeVのHeイオンをこの物質に照射すると、点状欠陥が生成されると考えられる。照射後、不可逆曲線は低温側に移動し、臨界電流密度の減少が観測され、照射によるピニング特性が劣化していることが判った。また、ピニング特性の劣化は、10$$^{13}$$cm$$^{-2}$$のオーダーの低照射量領域から起きていることが判った。

no abstracts in English

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