Magnetic microstructure observations of Co-Cr-Ta films using neutron scattering

中性子散乱によるCo-Cr-Ta薄膜の磁気微細構造観察

前田安*; D.Rogers*; O.Song*; 鈴木淳市; 森井幸生; 武井弘次*

not registered; D.Rogers*; O.Song*; Suzuki, Junichi; Morii, Yukio; not registered

中性子小角散乱により、Co-12at.% Cr-2at.% Ta薄膜の微細磁気構造を観察した。中性子散乱強度には、数ナノメートルの大きさに相当する磁気散乱ピークが観測された。この結果は、高密度磁気記録に適当な微細で均一なCo高濃度成分の存在を示唆する。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Applied Physics
巻	:	79
号	:	3
ページ数	:	p.1819 - 1821
発行年月	:	1996/02
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キーワード	:	Co-Cr-Ta; SANS

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論文URL	:	https://doi.org/10.1063/1.360977
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Access	:	- Accesses
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InCites™	:	パーセンタイル：8.28 分野：Physics, Applied
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登録番号 : A19950448
抄録集掲載番号 : 240276
論文投稿番号 : 13790

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