線と電子線の照射効果の比較春山 保幸; 森田 洋右; 瀬口 忠男; 田中 隆一; 金沢 孝夫; 四本 圭一; 吉田 健三
Haruyama, Yasuyuki; Morita, Yosuke; Seguchi, Tadao; Tanaka, Ryuichi; not registered; Yotsumoto, Keiichi; Yoshida, Kenzo
高分子材料の劣化に対する
線と電子線の照射効果を比較するために、7種類の高分子絶縁材料(ポリエチレン、ポリプロピレン、シリコンゴム、天然ゴム、ふっ素ゴム、エチレン酢酸ビニール共重合体、ブチルゴム)を選んだ。各高分子は真空中室温で線と電子線で照射した。線量測定は線では電離箱を用い、電子線ではCTA線量計を使用して、各高分子絶縁材料に対する吸収線量を求めた。照射後、高分子の劣化は分解ガス発生量、ゲル分率および膨潤比の測定、引張試験の3種類の方法で行った。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-M 88-197 |
ページ数 |
: | 31 Pages |
発行年月 |
: | 1988/10 |
| : | ||
論文URL |
: | |
キーワード |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
InCites™ |
: | |
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
