Onset of ELMs in JT-60U

JT-60UにおけるELMの発生条件

Kamada, Yutaka; Sato, Masayasu; Kikuchi, Mitsuru; Mori, Masahiro

JT-60Uにおいて、閉じ込め性能を制限しているELMは、加熱パワーがHモード遷移に必要なしきい値より充分大きい場合に発生する。ELMの無いHモードが得られるのは、線平均電子密度が、あるしきい値線平均電子密度のしきい値n $_{east}$ 以下の場合のみであり、それ以上の線平均電子密度ではELMが出現する。この密度しきい値n $_{east}$ は、バルーニングモードの指標パラメータである(Bt $^{2}$ /Rq $_{eff2}$ )liとともに上昇する。(n $_{east}$ Ti(95%)/(√Ti(95%)/Bp(a))で評価した周辺圧力勾配は、上記のバルーニング指標パラメータと良い比例関係にある。この依存性から、JT-60UのELMは、バルーニングモードに起因していると理解される。プラズマ中の圧力分布及びブートストラップ電流を含めた電流分布の時間発展解析の結果、プラズマ周辺部での急峻な圧力勾配は、高n理想バルーニングモードの安定限界に近接していることがわかった。

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使用言語	:	English
報告書番号	:	JAERI-Research 94-011
ページ数	:	17 Pages
発行年月	:	1994/08
特許データ	:
PDF	:	JAERI-Research-94-011.pdf:0.98MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-research-94-011
キーワード	:	ELM; バルーニングモード; MHD不安定性; Hモード; 圧力勾配; ITER物理R&D
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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登録番号 : S19940011
抄録集掲載番号 : 220597

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