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Crossliking of polymers in heavy ion tracks

重イオントラック内での高分子架橋

小泉 均*; 田口 光正; 小嶋 拓治; 市川 恒樹*

Koizumi, Hitoshi*; Taguchi, Mitsumasa; Kojima, Takuji; Ichikawa, Tsuneki*

数平均分子量60,000のポリジメチルシロキサンに220MeV C$$^{5+}$$,350MeV Ne$$^{8+}$$、及び460MeV Ar$$^{13+}$$イオンビームをそれぞれ照射した。試料はイオンの飛程より十分厚くした。照射後の試料をヘキサンに溶解し、メンブレンフィルターでろ過し、不溶分の重量を測定した。ポリジメチルシロキサンの$$gamma$$線照射ではゲル化線量以下においてゲルは生成せず、ゲル化線量以上から重量が急激に増加し、ゲル分率は1に近づく。一方、イオンビーム照射の場合は、イオンのそれぞれの飛跡に沿ってゲル細線が生成するため重量はフルエンスに比例する。ゲル細線一つあたりの収量はC$$^{5+}$$,Ne$$^{8+}$$,Ar$$^{13+}$$イオンそれぞれ1.1x10$$^{-14}$$ g ion$$^{-1}$$, 4.8x10$$^{-14}$$ g ion$$^{-1}$$,2.0x10$$^{-14}$$ g ion$$^{-1}$$となる。ここでゲル細線を円筒であると仮定すると、その半径はそれぞれ1.1nm,4.8nm、 及び6.0nmであった。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

JAERI-Review 2003-033, TIARA Annual Report 2002

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

p.143 - 144

発行年月

 :

2003/11

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

重イオン; トラック; ポリシロキサン; ゲル細線; 架橋

特許データ

 :

PDF

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論文URL

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研究データの公開先DOI

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使用施設

 :

TIARA(イオン照射研究施設)

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

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受委託・共同研究相手機関

 :

北海道大学

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