竹内 末広; 仲野谷 孝充 
; 株本 裕史 ; 石崎 暢洋 ; 松田 誠 ; 月橋 芳廣; 神田 将; 田山 豪一; 阿部 信市; 吉田 忠
Takeuchi, Suehiro; Nakanoya, Takamitsu; Kabumoto, Hiroshi; Ishizaki, Nobuhiro; Matsuda, Makoto; Tsukihashi, Yoshihiro; Kanda, Susumu; Tayama, Hidekazu; Abe, Shinichi; Yoshida, Tadashi
原研タンデム加速器は端子電圧を改善するためコンプレスドジオメトリの加速管に更新した。更新にあたって加速管内を高圧純水洗浄するアイデアを検証するための種種の簡単な試験と1MV及び3MVの高電圧試験を行った。その結果加速管セラミック表面は剥がれやすい微粒子がかなり付着していて、高圧純水洗浄等で清浄化することで高電圧性能が飛躍的に改善されることがわかった。加速管更新については経過を述べる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.308 - 310 |
発行年月 |
: | 2003/00 |
発表会議名 |
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開催年月 |
: | 2003/11 |
開催都市 |
: | つくば |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | Tandem Accelerator; Terminal Voltage; Acceleration Tube Replacement; Compressed Geometry Tube; High-pressure Water Jet Cleaning; Ceramics; Microparticles; 3 MV High-voltage Test; High-voltage Performance |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Altmetrics |
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