TiTiの微細構造に関するヘリウム/電子線照射の影響柴山 環樹*; 中道 勝*; 内田 宗範*; 河村 弘; 木下 博嗣*; 鬼柳 善明*; 高橋 平七郎*; 野村 直之*
Shibayama, Tamaki*; Nakamichi, Masaru*; Uchida, Munenori*; Kawamura, Hiroshi; Kinoshita, Hiroshi*; Kiyanagi, Yoshiaki*; Takahashi, Heishichiro*; Nomura, Naoyuki*
Beは中性子増倍材料の候補材料であるが、14MeVの中性子照射を受けるブランケット内では、はじき出し損傷だけではなく核変換による劣化も起こる。近年、BeTiがBeよりも優れた機械的特性を有する材料として開発された。本研究ではBeTiの20000appmHe, 700
CまでのHe照射効果、特にミクロ組織の挙動をマルチビーム超高圧電子顕微鏡を用いてその場(In-situ)観察で評価した。また、機械的特性をナノインデンタで評価した。その結果、BeTiはBeに比べてHe及び電子線の照射による欠陥生成が少ないことを明らかにした。また、機械的特性の劣化が小さいことを明らかにした。
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使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.216 - 219 |
発行年月 |
: | 2004/03 |
発表会議名 |
: | 6th IEA International Workshop on Beryllium Technology for Fusion |
開催年月 |
: | 2003/12 |
開催都市 |
: | Miyazaki |
開催国 |
: | Japan |
キーワード |
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論文URL |
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論文解説記事 |
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受委託・共同研究相手機関 |
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Access |
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Altmetrics |
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