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Incident angle dependence of MCD at the Dy $$M$$$$_{5}$$-edge of perpendicular magnetic Dy$$_{x}$$Co$$_{100-x}$$ films

垂直磁気膜Dy$$_{x}$$Co$$_{100-x}$$のMCD-XASスペクトルの入射角依存性

安居院 あかね; 水牧 仁一朗*; 朝日 透*; 佐山 淳一*; 松本 幸治*; 森川 剛*; 松下 智裕*; 逢坂 哲彌*; 三浦 義正*

Agui, Akane; Mizumaki, Masaichiro*; Asahi, Toru*; Sayama, Junichi*; Matsumoto, Koji*; Morikawa, Tsuyoshi*; Matsushita, Tomohiro*; Osaka, Tetsuya*; Miura, Yoshimasa*

次世代高密度記録媒体材料の候補として期待される希土類-遷移金属アモルファス薄膜の垂直磁気異方性の濃度依存性を元素別に調べるために、Dy$$_{x}$$Co$$_{1-x}$$膜の軟X線吸収測定及び磁気円二色性測定を行った。MCD測定は磁化の入射角に対する軸方向への射影としてあらわれ、濃度によってDyのモーメントの広がりが変化することがわかった。

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パーセンタイル:49.06

分野:Chemistry, Physical

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