Phase transition in SnTe with low carrier concentration

低キャリヤー濃度SnTeの相転移

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中性子回折法により、低キャリヤー濃度(0.8810 $^{2}$ $^{0}$ cm $^{-}$ $^{3}$ )のテルル化スズ(SnTe)単結晶試料での相転移を調べ、98Kに2次の相転移があることを見出した。これを以前のデータと比較すると、この相転移がキャリヤー濃度に強く依存することが明らかになった。また98Kの相転移温度はキャリヤー零の極限での値にかなり近いと推定される。キャリヤー依存の起源について考察した。?面体変形に伴う副格子の相対位置の温度変化をブラグ反射強度から求めた。Pb $_{1}$ -XSnxTe系に関してはX0.35、T5Kでは相転移を観測できなかった。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of the Physical Society of Japan
巻	:	38
号	:	2
ページ数	:	p.443 - 449
発行年月	:	1975/02
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	SnTe; 構造相転移; ソフト・フオノン; キャリヤー; 中性子回折; IV-VI化合物; 半導体; 格子振動; Pb $_{1}$ -XSnxTe

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1143/JPSJ.38.443
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登録番号 : A19744221
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 4149

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