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Radiation loss by impurities measured from the large helical device

大型ヘリカル装置で測定された不純物による放射損失

加藤 隆子*; 村上 泉*; 後藤 基志*; 森田 繁*; 居田 克巳*; Peterson, B. J.*; 舟場 久芳*; 仲野 友英

Kato, Takako*; Murakami, Izumi*; Goto, Motoshi*; Morita, Shigeru*; Ida, Katsumi*; Peterson, B. J.*; Funaba, Hisamichi*; Nakano, Tomohide

真空紫外スペクトルを定量解析した。C IIIスペクトル線の強度比から求めた電子温度を用い、ネオン入射によって発生したプラズマの放射損失源を分光計測とボロメータ計測で同定した。さらに不純物の発光線強度比の時間変化から不純物による放射損失の時間変化を求めた。

We analyzed impurity VUV spectral emission quantitatively. Electron temperature is derived from the intensity ratio of CIII line intensities. Radiation loss sources are identified using spectroscopy and bolometer in the case of radiation collapse caused by neon gas puffing. Time dependent radiation loss of impurity ions are derived from line intensities of impurities.

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