川面 澄*; 竹島 直樹*; 寺澤 昇久*; 青木 康*; 山本 春也; 梨山 勇; 鳴海 一雅; 楢本 洋
Kawatsura, Kiyoshi*; Takeshima, Naoki*; Terazawa, Norihisa*; Aoki, Yasushi*; Yamamoto, Shunya; Nashiyama, Isamu; Narumi, Kazumasa; Naramoto, Hiroshi
MeV領域の
H
, 
He, 
CイオンをCu, CuO, Ni, NiOに入射して、内殻多重電離過程で誘起されるX線スペクトルの精密測定を行い以下の結論を得た。(1)Cu原子からのLX線の測定では、たとえばターゲットがCuとCuOとの場合に、L
線, L
線のエネルギー領域で顕著な違いが見られた(2.5MeV He入射の場合)が、定量的評価が必要。(2)入射イオンの原子番号が増すと、エネルギー/核子をそろえた場合でも、特性X線のほかにいわゆる衛星線の発生によりスペクトルが複雑化する。そこで多重電離過程を利用した化学シフトの研究では、ターゲットとの組合せを考慮した入射イオンの選択が重要になる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.188 - 190 |
発行年月 |
: | 1999/10 |
キーワード |
: | Multiple Ionization; Ion Bombardment; X-ray Spectroscopy; Chemical Shift |
論文URL |
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論文解説記事 |
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