石川 正男*; 糸賀 俊朗*; 奥地 俊夫*; Nakhostin, M.*; 篠原 孝司; 林 孝夫; 助川 篤彦; 馬場 護*; 西谷 健夫
Ishikawa, Masao*; Itoga, Toshio*; Okuji, Toshio*; Nakhostin, M.*; Shinohara, Koji; Hayashi, Takao; Sukegawa, Atsuhiko; Baba, Mamoru*; Nishitani, Takeo
JT-60Uでは、中性子発生分布計測においてスチルベン中性子検出器を使用して中性子の計測を行ってきた。しかし、このスチルベン中性子検出器は中性子と
線との弁別性能に優れた特徴を有するが、アナログ回路を利用して弁別を行っているため、最大計数率は10
cps程度となり、統計誤差が大きくまたダイナミックレンジが低い等の欠点もあった。この度、これを克服するためにFlash-ADCを用いて直接アノード信号の波形を取得,保存し、ソフトウェアによって波形弁別をする手法を開発した。これにより10
cps以上の高計数率での測定を可能になる。本講演では、JT-60Uにおける初期の実験結果を報告する。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 77 |
号 |
: | 10 |
ページ数 |
: | p.10E706_1 - 10E706_3 |
発行年月 |
: | 2006/10 |
発表会議名 |
: | 16th Topical Conference on High Temperature Plasma Diagnostics |
開催年月 |
: | 2006/05 |
開催都市 |
: | Williamsburg |
開催国 |
: | U.S.A. |
キーワード |
: | no keyword |
論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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受委託・共同研究相手機関 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：69.46 分野：Instruments & Instrumentation |
Altmetrics |
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