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Studies on impact of electron cyclotron wave injection on the internal transport barriers in JT-60U weak shear plasmas

JT-60Uにおける電子サイクロトロン波入射の内部輸送障壁への影響に関する研究

井手 俊介; 竹永 秀信; 諌山 明彦; 坂本 宜照; 吉田 麻衣子; Gormezano, C.*

Ide, Shunsuke; Takenaga, Hidenobu; Isayama, Akihiko; Sakamoto, Yoshiteru; Yoshida, Maiko; Gormezano, C.*

電子サイクロトロン波(ECRF)の内部輸送障壁(ITB)に対する影響をJT-60Uの弱磁気シアプラズマにおいて調べた。ECRF入射により、弱磁気シアプラズマのイオン温度分布が劣化することがわかっている。今回さらに詳細な実験を行い、この劣化のさまざまなパラメータに対する依存性を明らかにした。すなわち、入射ECパワー,プラズマ電流,ターゲットプラズマのトロイダル回転分布,入射位置(on-axis入射とoff-axis入射)などである。これにより、劣化のメカニズムは、ECRFパワーには正に依存するが、ECRFによる電流駆動にはよらないこと、一方、プラズマ電流が大きくなる程影響が小さくなること、ターゲットの回転分布を常に平坦化すること、また、弱磁気シアプラズマのITBは非局所的な構造を持っていること、等々が明らかになった。

Impact of the electron cyclotron range of frequency wave (ECRF) on the internal transport barriers (ITBs) in a weak shear (WS) plasma has been investigated in JT-60U. It is observed that the ion temperature ($$T_{rm i}$$) ITB in a WS plasma can be degraded by ECRF. It is clarified for the first time that the degradation depends increasingly on the EC power ($$P_{rm EC}$$) but decreasingly on the plasma current ($$I_{rm p}$$). Moreover it is confirmed that ECRF affects the toroidal rotation ($$V_{rm t}$$) indirectly and results in flattening of $$V_{rm t}(rho)$$ profiles regardless of the direction of the target $$V_{rm t}(rho)$$. Furthermore, it is newly found that $$T_{rm i}$$ and $$V_{rm t}$$ in the whole ITB region are affected with almost no delay from the EC onset even with off-axis EC deposition. These results indicate that the EC injection unveiled a semi-global structure that characterizes $$T_{rm i}$$ ITB in a WS plasma.

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パーセンタイル:67.23

分野:Physics, Fluids & Plasmas

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