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TOF実験における多重$$gamma$$線検出装置の不感時間の評価

Dead time of a data acquisition system for multiple prompt $$gamma$$-ray spectroscopies on TOF experiments

木村 敦  ; 古高 和禎 ; 藤 暢輔  ; 堀 順一*; 小泉 光生 ; 水本 元治*; 西山 潤*; 大島 真澄

Kimura, Atsushi; Furutaka, Kazuyoshi; Toh, Yosuke; Hori, Junichi*; Koizumi, Mitsuo; Mizumoto, Motoharu*; Nishiyama, Jun*; Oshima, Masumi

革新的原子炉や加速器駆動炉の設計研究に重要なマイナー・アクチニド(MA)の核データの整備を目的に、京都大学原子炉実験所LINACに4$$pi$$-Geスペクトロメータ(多重$$gamma$$線検出装置)を設置し、TOF法を用いたMAの中性子捕獲断面積測定を実施している。この多重即発$$gamma$$線分光実験においては、多数のGe半導体検出器(Ge検出器からの出力は30ch)を用いて測定を行い、複数の検出器の測定結果の相関をとるため、正確なデータを得るためにはすべての検出器の正確な不感時間を知る必要がある。特にTOF実験においては、イベントレートに大きな時間依存性があるため、不感時間の時間依存性をも正確に把握する必要がある。そこで、ランダムパルサーを分岐してすべての検出器に入力することにより、すべての検出器の不感時間を容易に測定する手法を開発した。

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