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シロイヌナズナにおけるイオンビーム及び$$gamma$$線誘発突然変異の解析

Analysis on mutation induced by ion-beam and $$gamma$$-rays in ${it Arabidopsis}$

吉原 亮平; 長谷 純宏; 滝本 晃一*; 鳴海 一成

Yoshihara, Ryohei; Hase, Yoshihiro; Takimoto, Koichi*; Narumi, Issei

放射線は、DNAに傷害を与え突然変異の原因となる。生物は、その傷害を修復するためのDNA修復機構をもっている。これまでに微生物や動物において遺伝子レベルで放射線誘発変異の種類や、変異誘発とDNA修復機構の関係が調べられた。しかし、高等植物においては、それらの研究はほとんど行われていない。本研究ではモデル植物のシロイヌナズナを用いた突然変異検出システム(Yoshihara et al. 2006)により、イオンビームと$$gamma$$線による誘発変異の特徴を遺伝子レベルで明らかにすることを目的とした。大腸菌のribosomal protein small subunit S12(${it rpsL}$)遺伝子を導入したシロイヌナズナにイオンビーム及び$$gamma$$線を照射し、変異を持った${it rpsL}$遺伝子を染色体DNAからプラスミドレスキューにより回収し、誘発された突然変異を解析した。今回は、本システムを用いて得られた結果からイオンビーム及び$$gamma$$線の誘発変異の特徴について報告する。

Ionizing radiation induces DNA damages which cause mutation. Organisms have DNA repair systems to repair DNA damages. The relationship between types of mutation induced by ionizing radiation and DNA repair systems are well studied in bacteria and animal. In plant, however, little is known about it. In this study we will investigate ion-beam and $$gamma$$-rays induced mutations in plant by using ${it Arabidopsis}$ mutation detection system (Yoshihara et al. 2006). Ion-beam and $$gamma$$-rays are irradiated to ${it Arabidopsis}$ containing ${it E. coli rpsL}$ gene. Mutated ${it rpsL}$ gene is collected as a plasmid by plasmid rescue from chromosomal DNA and analyze the types of mutations. We will report the results of ion-beam and $$gamma$$-rays induced mutations detected by this system.

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