MW級実験ターゲットの照射後試験計画
MEGAPIE PIE plan
菊地 賢司; Yong, D.*; Al Mazouzi, A.*; Jean, H.*; Maloy, S.*; Lindau, R.*; Park, J. Y.*; Gr
schel, F.*
Kikuchi, Kenji; Yong, D.*; Al Mazouzi, A.*; Jean, H.*; Maloy, S.*; Lindau, R.*; Park, J. Y.*; Gr
schel, F.*
MW級実験ターゲット(MEGAPIE)の運転が2006年に成功した。実験で使用した機器要素の解体を行い、高エネルギー陽子と鉛ビスマス流動というADS環境で使用された機器の品質状態を調べる。機器から切断される試料は試験協力機関に分配されて、試験される予定である。この照射後試験により、設計,製作,使用された材料の品質劣化の状態がチェックされる。照射材の試験を2010
2011年に実施する予定であり、その前に2008
2009年に非照射材を用いて、ラウンド・ロビンテストを行い、各試験実施予定機関の技術レベルを下調べする。
MEGAPIE (Megawatt Pilot Experiment) was successfully done in 2006. Components performance during high-energy proton beam bombardment under the liquid lead-bismuth flow will be studied to define ADS quality condition. Samples are cut from the spent target and distributed to collaborated organizations. PIE (Post Irradiation Experiment) will provide knowledge on materials quality evaluated by design, construction and operation. It is scheduled to pre-test in 2008-2009 and to do PIE in 2010 and 2011. Before conducting PIE round robin test is to be done in order to secure experiment technology level.