Sn素線の曲げ歪印加時の断面観察Sn conductorBanno, Nobuya*; Takeuchi, Takao*; Koizumi, Norikiyo; Okuno, Kiyoshi
ITERモデル・コイルの試験の結果から、電磁力によって導体の臨界連流性能が劣化することが観測されており、その原因として、素線の局所的な曲げが考えられている。そこで、実験的に、NbSn素線の臨界電流値の曲げによる劣化特性が測定された。これに対して、古典的な解析モデルの適用及び有限要素法を用いた数値解析等が実施され、試験結果を説明することが試みられたが、これまでに十分に説明することができていない。そこで、ITER用に開発された種々のNbSn素線の断面のSEM観察を行い、断面構成やフィラメントの結合状況,クラック発生が臨界電流値の曲げ歪み依存性に与える影響を検討した。その結果、フィラメントにクラックの発生が観測され、また、クラックが多い素線ほど曲げによる臨界電流値の低下が大きくなる傾向が観測された。
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使用言語 |
: | Japanese |
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開催年月 |
: | 2008/11 |
開催都市 |
: | 高知 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
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論文解説記事 |
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