SnフィラメントのEBSD分析Sn filaments竹内 孝夫*; 伴野 信哉*; 飯嶋 安男*; 土屋 清澄*; 小泉 徳潔
Takeuchi, Takao*; Banno, Nobuya*; Iijima, Yasuo*; Tsuchiya, Kiyosumi*; Koizumi, Norikiyo
NbAlの結晶粒径を測定するために電子後方散乱回折(EBSD)法が使用されるが、その妥当性が検証されていない。そこで、結晶粒径を引張破断面から容易に評価できるNbSnに対して、EBSD法を適用し、その妥当性を検討した。試験の結果、EBSD法と引張破断面から評価した結晶粒径は、比較的よく一致し、EBSD法の妥当性を検証できた。
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使用言語 |
: | Japanese |
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開催年月 |
: | 2008/11 |
開催都市 |
: | 高知 |
開催国 |
: | 日本 |
キーワード |
: | no keyword |
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論文解説記事 |
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