検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

JT-60U負イオン源の耐電圧改善

Improvement of voltage holding capability of negative ion source in JT-60U

田中 豊; 花田 磨砂也; 小林 薫; 秋野 昇; 棚井 豊*; 木崎 雅志

Tanaka, Yutaka; Hanada, Masaya; Kobayashi, Kaoru; Akino, Noboru; Tanai, Yutaka*; Kisaki, Masashi

JT-60U負イオン源は、500keVのD$$^{-}$$ビームの生成を目標としているが、負イオン源加速管の耐電圧が不十分であるため、これまでの実績値は350keVとなっていた。そのため、本研究では、負イオン源の耐電圧改善へ向けて、実機負イオン源と電極サンプルの耐電圧試験を実施した。負イオン源の耐電圧試験では、加速電極を取り外すことにより、イオン源一段あたりの耐電圧が130kVから170kVに上昇することが確認され、加速電極が耐電圧劣化の原因であることが判明した。この加速電極の問題点として、冷却配管の固定に使用されている銀ローの影響,電極孔における電界集中の影響が挙げられる。そのため、銀ロー電極と多孔電極のサンプルを製作し、それらの耐電圧試験を実施した。その結果、無酸素銅電極と比べ、銀ロー電極では耐電圧10%低下・コンディショニング時間5倍、多孔電極では、耐電圧20%低下という結果が得られた。これらの結果から、加速電極の形状(銀ローのシールド,電極間隔,電極孔エッジ部の曲率)の最適化により、耐電圧の改善や、コンディショニング時間の短縮が可能であることが判明した。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.