Reductive sorption of Se(IV,VI) onto Pyrite; A -XRF/XAS study

黄鉄鉱へのセレンの還元性収着挙動; マイクロX線蛍光法及びマイクロX線吸収分光法による研究

北村 暁  ; Curti, E.*; Aimoz, L.*

Kitamura, Akira; Curti, E.*; Aimoz, L.*

黄鉄鉱に対するセレン(4価及び6価)の相互作用を、マイクロX線吸収分光(-XAS)測定を用いて調べた。表面を研磨したスペイン産黄鉄鉱片と10MのSe(IV)もしくはSe(VI)溶液を、不活性ガス雰囲気、80Cにて約2か月間接触させた。試験後の黄鉄鉱表面のセレンの分布を、ビーム径が約11mのマイクロX線による蛍光測定(-XRF)で調べるとともに、セレンのK吸収端付近における-XAS測定を、スイス放射光研究施設にて実施した。マイクロXRF分布の結果、セレンが不均質に分布しており、セレンの濃集スポットの周囲に低濃度のセレンが分布していることが観測された。また、マイクロX線吸収端近傍スペクトルの測定結果から、Se(IV)及びSe(VI)が部分的にSe(0)に還元されていることが観測された。

In the present study, the interaction of Se(IV,VI) species with pyrite under strictly anoxic conditions was investigated using micro X-ray spectroscopy (-XAS). Polished chips of natural pyrite (Navajun, Spain) were reacted with 10 M NaSe(IV)O or NaSe(VI)O solutions at 80C during two months. Micro X-ray Fluorescence (-XRF) maps and -XAS spectra were collected in suitable sample holders flushed with inert gas at the Swiss Light Source (X05 beamline), using a beam focused to roughly 11 m. A highly heterogeneous distribution of Se on the pyrite surface was observed on the -XRF maps. Several highly-concentrated Se spots of a few m size were detected, surrounded by areas with low and uniform Se-level distribution. Micro X-ray Absorption Near-Edge Spectra (-XANES) in both regions indicate that Se(IV) and Se(VI) were partially reduced to Se(0).