検索対象:     
報告書番号:
※ 半角英数字
 年 ~ 
 年

Si/CdTeコンプトンカメラによるイメージングと偏光測定

Imaging and polarization experiment by using Si/CdTe Compton camera

青野 博之*; 武田 伸一郎*; 石川 真之介*; 小高 裕和*; 渡辺 伸*; 国分 紀秀*; 高橋 忠幸*; 河地 有木; 豊川 秀訓*

Aono, Hiroyuki*; Takeda, Shinichiro*; Ishikawa, Shinnosuke*; Odaka, Hirokazu*; Watanabe, Shin*; Kokubun, Motohide*; Takahashi, Tadayuki*; Kawachi, Naoki; Toyokawa, Hidenori*

これまで散乱体にSi両面ストリップ検出器,吸収体にCdTe Pad検出器を用いたコンプトンカメラを開発し、高い位置分解能を有することを実証してきた。また、コンプトンカメラはその検出原理から偏光観測においても威力を発揮することが期待できる。本研究ではSPring-8において100%の偏光ビームを用いて、170keVの偏光$$gamma$$線に対しモジュレーションファクターが0.8という結果を得た。これは理論計算から予測される値とほぼ一致し、コンプトンカメラの高い偏光検出能力を表している。

no abstracts in English

Access

:

- Accesses

InCites™

:

Altmetrics

:

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.