軟X線レーザー干渉計を用いたナノスケール擾乱の高時間分解観察

Observation of nano-scale fluctuation on solid surface by soft X-ray laser interferometer with highly temporal resolution

越智 義浩; 寺川 康太*; 末元 徹*; 河内 哲哉; 長谷川 登; 富田 卓朗*; 山本 稔*; 出来 真斗*; 大場 俊幸; 海堀 岳史

Ochi, Yoshihiro; Terakawa, Kota*; Suemoto, Toru*; Kawachi, Tetsuya; Hasegawa, Noboru; Tomita, Takuro*; Yamamoto, Minoru*; Deki, Manato*; Oba, Toshiyuki; Kaihori, Takeshi

プラズマ軟X線レーザー(波長13.9nm,パルス幅7ps)を光源とする固体表面観測用の干渉計の開発を行った。本装置により、光誘起相転移等に伴う初期擾乱の発生,伝播の様子を、シングルショット・ポンププローブにより、ピコ秒の時間分解能,ナノメートルの空間分解能(Z方向)での観測を目指す。講演では静的なサンプルを用いて行った装置性能評価試験の結果について報告する。

We developed a soft X-ray laser interferometer dedicated to the solid state physics. The interferometer enabled us to observe dynamical changes on the solid surface such as the photo-induced phase transition with picoseconds temporal resolution and nanometer special resolution (in z-axis). We carried out a performance test using static test pattern and confirmed the performance.