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Microstructural observation of ITER Nb$$_{3}$$Sn strands under bending strain

ITER Nb$$_{3}$$Sn素線の曲げ歪み印加時の微視的挙動の観察

伴野 信哉*; 竹内 孝夫*; 小泉 徳潔; 奥野 清

Banno, Nobuya*; Takeuchi, Takao*; Koizumi, Norikiyo; Okuno, Kiyoshi

原子力機構がITER用に開発したNb$$_{3}$$Sn線に曲げ歪みを印加して、Nb$$_{3}$$Snフィラメントの断線発生状況を電子顕微鏡を用いて観察した。その結果、曲げ歪み0.3%程度でフィランメントの断線が発生し始めて、約1%で多数のフィラメントが断線することがわかった。この結果から、Nb$$_{3}$$Sn線が約1%の曲げ歪みを受けると臨界電流性能が大幅に劣化する実験結果を定性的に説明できる。また、サブ・セグメント内のフィラメントは、隣接するフィラメントと接触している部分が観測された。そこで、Nb$$_{3}$$Sn線のヒステリシス損失を測定して、有効フィラメント径を求め、前記の観測結果の妥当性を検討した。その結果、サブ・セグメント構造を採用したNb$$_{3}$$Sn線では、有効フィラメント径が、サブ・セグメントの直径とほぼ同等となり、前記の観測結果の妥当性が確認できた。

no abstracts in English

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分野:Engineering, Electrical & Electronic

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