Si(111)-77表面の室温酸化の放射光XPS, LEED及びSTMによるリアルタイム観察

Real-time observation of oxidation of Si(111)-77 surface at 300 K by using LEED, STM and synchrotron radiation XPS

Si(111)-77表面の室温酸化における酸化物と77構造の共存を、リアルタイムSR-XPS, LEED及びSTMを併用して確認したので報告する。

The coexistence of oxides and the 7x7 structure in the oxidation of the Si(111)-77 surface is confirmed by the real-time SR-XPS, LEED and STM measurements.

使用言語	:	Japanese
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発表会議名	:	第23回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム
開催年月	:	2010/01
開催都市	:	姫路
開催国	:	日本
キーワード	:	no keyword

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使用施設	:	SPring-8(大型放射光施設)
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登録番号 : BB20092996
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