Surface analysis of single-crystalline -FeSi

-FeSi単結晶の表面分析

山田 洋一*; Mao, W.*; 朝岡 秀人  ; 山本 博之; 江坂 文孝  ; 鵜殿 治彦*; 都留 智仁   

Yamada, Yoichi*; Mao, W.*; Asaoka, Hidehito; Yamamoto, Hiroyuki; Esaka, Fumitaka; Udono, Haruhiko*; Tsuru, Tomohito

清浄な表面を有する-FeSiの単結晶を調製し、各種の表面分析を行った。表面酸化物に関するXPS(X線光電子分光)測定からは、FeではなくおもにSiが酸化することがわかった。LEED(低速電子線回折)やSTM(走査トンネル顕微鏡)の測定からは、表面酸化物を除去した表面は、清浄で、バルク結晶の切断面と同じような構造を有し、表面での大きな再構成は認められなかった。このことからFeとSiが強固な結合を呈していることが示唆された。

Clean surfaces of the single crystalline -FeSi have been prepared and investigated. From XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) measurements of the surface oxide, it is found that the surface Si is mainly oxidized while Fe isn't. After removing the surface oxide, clean surface can be obtained showing reasonable structure in LEED (Low-Energy Electron Diffraction) and STM (Scanning Tunneling Microscope). No drastic surface reconstruction is found reflecting strong Fe-Si bond. DFT (Density Functional Theory) calculation suggests the spin polarized surface DOS (Density Of State) when Fe comes at the surface.